一、設備用途：
適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗；半導體、精密組件、零件接腳氧化試驗.
二、主要技術參數：
規格型號： HE-ZQ-5417
內部尺寸： 500×400×170（W×H×D）mm；
外部尺寸： 600×500×420（W×H×D）mm
內外箱材質： SUS304#優質不銹鋼板
控制功能： PID+SSR，數字式顯示
升溫時間： 大約40分鐘，
蒸氣溫度： ≥97℃
計時功能： 1～9999H/M/S，附時到報警功能，時間到達后切斷電源
水位控制： 低水位報警功能
電源： AC 220V±10% 50Hz 1.0KW
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